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06. Februar 2017

Workshop: SIFT-MS-Analytik mit automatiserter MPS-Probenaufgabe

GERSTEL und Syft veranstalteten am 29.3.2017 einen Workshop zu Grundlagen und Automatisierung der effizienten Selected-Ion Flow-Tube (SIFT) Massenspektrometrie.

Das Programm des Workshops umfasst eine Einführung in die Selected-Ion-FlowTube-Mass-Spectometry (SIFT-MS) für Headspace-Analytik sowie gasförmige Proben und zeigt typische Applikationen angefangen bei Lebensmittel- über Pharma- bis hin zu Umweltanalytik. Es wird gezeigt, wie sich mit GERSTEL-Automatisierung die SIFT-MS-Analytik im Hochdurchsatz realisieren lässt, ein entsprechendes Analysensystem wird live demonstriert.

Der Workshop findet statt am 29. März 2017 von 9:30 bis 14:30 in der GERSTEL Firmenzentrale:

GERSTEL GmbH & Co. KG
Eberhard-Gerstel-Platz 1
45473 Mülheim an der Ruhr

Die Teilnahme ist kostenlos.
Anmeldung bis zum 17. März 2017 über:
www.syft.com/automation-workshop

 

Workshop-Flyer (pdf,325K)